研究成果Research results
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過(guò)電壓防護(hù)的雷電流測(cè)試國(guó)家獎(jiǎng)(國(guó)家科技進(jìn)步二等獎(jiǎng))
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電子元器件絕緣粉末包封理論、關(guān)鍵技術(shù)及系列產(chǎn)品開(kāi)發(fā)(國(guó)家科技進(jìn)步二等獎(jiǎng))
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過(guò)電壓防護(hù)的雷電流測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)及其系列設(shè)備開(kāi)發(fā)(教育部科技進(jìn)步一等獎(jiǎng))
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電子元器件環(huán)氧粉末絕緣包封關(guān)鍵技術(shù)及其應(yīng)用(教育部科技進(jìn)步一等獎(jiǎng))
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電氣絕緣材料耐電蝕損檢測(cè)設(shè)備開(kāi)發(fā)(陜西省科技進(jìn)步二等獎(jiǎng))